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變頻介損測(cè)試儀

變頻介損測(cè)試儀

更新時(shí)間:2024-12-11

產(chǎn)品型號(hào):

產(chǎn)品報(bào)價(jià):

產(chǎn)品特點(diǎn):變頻介損測(cè)試儀專門為高壓測(cè)試專業(yè)試驗(yàn)各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗因數(shù)(tgδ)和電容量(C)而設(shè)計(jì)的一種新型測(cè)試設(shè)備。

變頻介損測(cè)試儀的詳細(xì)資料:

產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)加工定制

  介損絕緣試驗(yàn)可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì),以及局部缺陷等,在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。

變頻介損測(cè)試儀采用變頻電源技術(shù),利用單片機(jī)和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算,達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、操作簡(jiǎn)便的功能。變頻電源采用大功率開(kāi)關(guān)電源,輸出45Hz和55Hz純正弦波,自動(dòng)加壓,可提供10kV的電壓;自動(dòng)濾除50Hz干擾,適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。

變頻介損測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo):

●抗干擾方式:變頻抗干擾

●測(cè)試方式:正接法、反接法、自激法、外接法

●測(cè)量范圍:電容量?jī)?nèi)接高壓<60000PF

                外接高壓30P~600000PF

                小分辨率0.001%

●準(zhǔn)確度:電容量1.5%±1.5PF

             介損1%±0.07%

●附加功能:絕緣電阻測(cè)試

                電子萬(wàn)年歷

                標(biāo)準(zhǔn)RS232接口

●內(nèi)接試驗(yàn)電源:0.5~10KV電壓緩升緩降

          45~65HZ頻率可調(diào)45/55Hz

           47.5/52.5HZ自動(dòng)雙頻測(cè)試

           大輸出電流:200mA

            自激電源:3~50V變頻

            大輸出電流:20A

●工作環(huán)境溫度:-10~50℃

●濕度:30%~70%

●外型尺寸:430×320×300mm 25Kg

智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀功能特點(diǎn)
1、變頻抗干擾

采用變頻抗干擾技術(shù),在200%干擾下仍能準(zhǔn)確測(cè)量,測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定,適合在現(xiàn)場(chǎng)做抗干擾介損試驗(yàn)。

2、高精度測(cè)量

采用數(shù)字波形分析和電橋自校準(zhǔn)等技術(shù),配合高精度三端標(biāo)準(zhǔn)電容器,實(shí)現(xiàn)高精度介損測(cè)量。

儀器所有量程輸入電阻低于2Ω,消除了測(cè)量電纜附加電容的影響。

3、多級(jí)安全保護(hù),確保人身和設(shè)備安全

高壓保護(hù):試品短路、擊穿或高壓電流波動(dòng),能以短路方式高速切斷輸出。

低壓保護(hù):誤接380V、電源波動(dòng)或突然斷電,啟動(dòng)保護(hù),不會(huì)引起過(guò)電壓。

接地保護(hù):儀器接地不良使外殼帶危險(xiǎn)電壓時(shí),啟動(dòng)接地保護(hù)。

C  V  T:高壓電壓和電流、低壓電壓和電流四個(gè)保護(hù)限,不會(huì)損壞設(shè)備;誤選菜單不會(huì)輸出激磁電壓。CVT測(cè)量時(shí)無(wú)10kV高壓輸出。

工作原理:

   在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。

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